Lataa...
Defects control in semiconductors : proceedings of the conference on the science and technology of defect control in semiconductors, The Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, Sept. 17-22: 1989
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Yhteisötekijä: | |
| Aineistotyyppi: | Printed Book |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
Amsterdam
North-Holland
1990
|
| Aiheet: |
UL
| Hyllypaikka: |
621.382:620.1 SUM |
|---|---|
| Nide | Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa |