Defects control in semiconductors : proceedings of the conference on the science and technology of defect control in semiconductors, The Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, Sept. 17-22: 1989

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Sumib, K. [ed.] (ed.by)
مؤلف مشترك: International conference on the science and technology of defect control in semiconductors
التنسيق: Printed Book
اللغة:English
منشور في: Amsterdam North-Holland 1990
الموضوعات:
Semiconductors - defect control

UL

تفاصيل المقتنيات من UL
رقم الطلب: 621.382:620.1 SUM
النسخة الحالة المباشرة غير متاحة

مواد مشابهة