Đang tải...
Defects control in semiconductors : proceedings of the conference on the science and technology of defect control in semiconductors, The Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, Sept. 17-22: 1989
Tác giả chính: | Sumib, K. [ed.] (ed.by) |
---|---|
Tác giả của công ty: | International conference on the science and technology of defect control in semiconductors |
Định dạng: | Printed Book |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
Amsterdam
North-Holland
1990
|
Những chủ đề: |
Những quyển sách tương tự
-
Photoinduced defects in semiconductors
Bằng: Redfield, David
Được phát hành: (1996) -
Photoinduced defects in semiconductors /
Bằng: Redfield, David
Được phát hành: (1996) -
Defects control in semiconductors: Proceedings of the conference on the science and technology of defect control in semiconductors,...
Được phát hành: (1990) -
Extended defects in semiconductors : electronic properties, device effects and structures /
Bằng: Holt, D. B.
Được phát hành: (2007) -
Extended defects in semiconductors: electronic properties, device effects and structures
Bằng: Holt, D. B. and Yacobi, B. G.
Được phát hành: (2007)