טוען...

Defects control in semiconductors : proceedings of the conference on the science and technology of defect control in semiconductors, The Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, Sept. 17-22: 1989

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Sumib, K. [ed.] (ed.by)
מחבר תאגידי:	International conference on the science and technology of defect control in semiconductors
פורמט:	Printed Book
שפה:	English
יצא לאור:	Amsterdam North-Holland 1990
נושאים:	Semiconductors - defect control

תיאור
ISBN:	0-444-88429-7

פריטים דומים