تحميل...

Defects control in semiconductors : proceedings of the conference on the science and technology of defect control in semiconductors, The Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, Sept. 17-22: 1989

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:	Sumib, K. [ed.] (ed.by)
مؤلف مشترك:	International conference on the science and technology of defect control in semiconductors
التنسيق:	Printed Book
اللغة:	English
منشور في:	Amsterdam North-Holland 1990
الموضوعات:	Semiconductors - defect control

الوصف
ردمك:	0-444-88429-7

مواد مشابهة