טוען...

QR Code

Structural analysis of point defects in soilds : an introduction to multiple magnetic resonance spectroscopy

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Spaeth, Johann - Martin
פורמט:	Printed Book
שפה:	English
יצא לאור:	Berlin Springer - Verlag 1992
סדרה:	( Springer series in soild - state sciences, 43 )
נושאים:	Structural analysis - spectrometer > Defects analysis - spectrometer

פריטים דומים

Mass spectrometry
מאת: Davis, Reg
יצא לאור: (1991)

B.Sc Practical Physics
מאת: Arora, C.L
יצא לאור: (1995)

X-ray fluorescence analysis of environmental samples
מאת: Dzubay, T G
יצא לאור: (1978)

Introduction to experimental nuclear physics
מאת: Singru, R M
יצא לאור: (1972)

Spectrometric identification of organic compounds.
מאת: Silverstein, Robert M.
יצא לאור: (2005)

Introduction to experimental nuclear physics
מאת: Singru, R M
יצא לאור: (1974)

Handbook of analytical instruments
מאת: Khandpur, R.S
יצא לאור: (2006)

Principles and practice of x-ray spectrometric analysis
מאת: Bertin, Eugene P
יצא לאור: (1975)

Point defects and defect intraction in metals
מאת: Takamura, Jin-Ichi, Ed., et al
יצא לאור: (1982)

Point defects in crystals /
מאת: Watts, R. K. (Roderick K.), 1939-
יצא לאור: (1977)

Point defects in metals
מאת: Damask, A C; Dienes, G J
יצא לאור: (1963)

Point defects and diffusion
מאת: Flynn, C P
יצא לאור: (1972)

Point defects in solids. 3v.; v1. general and ionic crystals
מאת: Crawford, James Homer
יצא לאור: (1972)

Point defects and diffusion
מאת: Flynn, C P
יצא לאור: (1972)

Mass spectrometry
מאת: Robertson, A. J. B.
יצא לאור: (1954)

Point defects in metals I: introduction to the theory
מאת: Leibfried, Gunther
יצא לאור: (1978)

DEFECTS AND DEFECT PROCESSES IN NONMETALLIC SOLIDS
מאת: HAYES W & STONEHAM A M
יצא לאור: (1985)

Monte carlo simulations of the high energy X-ray spectrometer (HEX) on Chandrayaan-I
מאת: Sudhakar, Manju

Handbook of Analytical Instruments
מאת: Khandpur, R S
יצא לאור: (2011)

The Politics Of Defection
מאת: Subhash Kashyap,C
יצא לאור: (1969)

Point defects in solids, Vol.1: General and ionic crystals
מאת: Crawford, James H, Ed.; Slifkin, Lawrence M, Ed
יצא לאור: (1972)

Technology of building defects
מאת: Hinke, John
יצא לאור: (1997)

Point defects in metals II: dynamical properties and diffusion controlled reactions
מאת: Dederichs, P. H.
יצא לאור: (1978)

Defect crystal chemistry and its applications /
מאת: Tilley, R. J. D.
יצא לאור: (1987)

Defect crystal chemistry and its applications /
מאת: Tilley, R. J. D.
יצא לאור: (1987)

Point defects in solids
מאת: Jr., James H Crawford
יצא לאור: (1972)

Extended defects in semiconductors : electronic properties, device effects and structures /
מאת: Holt, D. B.
יצא לאור: (2007)

The electronic structure of point defects: as determined by Mössbauer spectroscopy and by spin resonance.
מאת: Wertheim, Gunther K.
יצא לאור: (1972)

Manual of Anti-Defection Laws
מאת: Murali Purushothaman

Crystal defects and crystalline interfaces
מאת: Bollmann, W
יצא לאור: (1970)

The structure and properties of crystal defects : proceedings of the Symposium on the Structure and Properties of Crystal Defects, Liblice, Czechoslovakia, June 13-17, 1983 /
יצא לאור: (1984)

Extended defects in semiconductors: electronic properties, device effects and structures
מאת: Holt, D. B. and Yacobi, B. G.
יצא לאור: (2007)

Point defects in metals: introduction to the theory
מאת: Leibfried, Gunther
יצא לאור: (1978)

Common defects in buildings
מאת: Eldridge, H.J
יצא לאור: (1976)

Crystallography and crystal defects /
מאת: Kelly, A. (Anthony)
יצא לאור: (2012)

Photoinduced defects in semiconductors /
מאת: Redfield, David
יצא לאור: (1996)

Photoinduced defects in semiconductors
מאת: Redfield,David
יצא לאור: (1996)

CRYSTALLOGRAPHY AND CRYSTAL DEFECTS
מאת: KELLY A
יצא לאור: (2000)

Photoinduced defects in semiconductors
מאת: Redfield, David
יצא לאור: (1996)

Internal friction of structural defects in crystalline solids
מאת: Batist, R. de
יצא לאור: (1972)