Загрузка...
Photoinduced defects in semiconductors
Главный автор: | |
---|---|
Другие авторы: | |
Формат: | Printed Book |
Язык: | English |
Опубликовано: |
Cambridge
Cambridge University
1996
|
Серии: | (Cambridge studies in semiconductors physics and microelectronic Engineering)
|
Предметы: |
UL
Шифр: |
621.3.032:541.14 RED |
---|---|
Копировать | Недоступно состояние Live" What does mean the status Live (working) |