Загрузка...

Photoinduced defects in semiconductors

Библиографические подробности
Главный автор: Redfield, David
Другие авторы: Bube, Richard H.
Формат: Printed Book
Язык:English
Опубликовано: Cambridge Cambridge University 1996
Серии:(Cambridge studies in semiconductors physics and microelectronic Engineering)
Предметы:

UL

Подробно о фондах из UL
Шифр: 621.3.032:541.14 RED
Копировать Недоступно состояние Live" What does mean the status Live (working)