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Photoinduced defects in semiconductors

Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Redfield, David
Outros autores: Bube, Richard H.
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado: Cambridge Cambridge University 1996
Series:(Cambridge studies in semiconductors physics and microelectronic Engineering)
Subjects:

UL

Detalle de Existencias desde UL
Número de Clasificación: 621.3.032:541.14 RED
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