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Photoinduced defects in semiconductors

Détails bibliographiques
Auteur principal: Redfield, David
Autres auteurs: Bube, Richard H.
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: Cambridge Cambridge University 1996
Collection:(Cambridge studies in semiconductors physics and microelectronic Engineering)
Sujets:

UL

Informations d'exemplaires de UL
Cote: 621.3.032:541.14 RED
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