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Photoinduced defects in semiconductors

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Redfield, David
Otros Autores: Bube, Richard H.
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: Cambridge Cambridge University 1996
Colección:(Cambridge studies in semiconductors physics and microelectronic Engineering)
Materias:

UL

Detalle de Existencias desde UL
Número de Clasificación: 621.3.032:541.14 RED
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