Načítá se...

Photoinduced defects in semiconductors

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Redfield, David
Další autoři: Bube, Richard H.
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: Cambridge Cambridge University 1996
Edice:(Cambridge studies in semiconductors physics and microelectronic Engineering)
Témata:

UL

Informace o exemplářích z: UL
Signatura: 621.3.032:541.14 RED
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost