טוען...
Photoinduced defects in semiconductors
מחבר ראשי: | Redfield, David |
---|---|
מחברים אחרים: | Bube, Richard H. |
פורמט: | Printed Book |
שפה: | English |
יצא לאור: |
Cambridge
Cambridge University
1996
|
סדרה: | (Cambridge studies in semiconductors physics and microelectronic Engineering)
|
נושאים: |
פריטים דומים
-
Photoinduced defects in semiconductors /
מאת: Redfield, David
יצא לאור: (1996) -
Photoinduced defects in semiconductors
מאת: Redfield,David
יצא לאור: (1996) -
Extended defects in semiconductors : electronic properties, device effects and structures /
מאת: Holt, D. B.
יצא לאור: (2007) -
Extended defects in semiconductors: electronic properties, device effects and structures
מאת: Holt, D. B. and Yacobi, B. G.
יצא לאור: (2007) -
Defects control in semiconductors : proceedings of the conference on the science and technology of defect control in semiconductors, The Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, Sept. 17-22: 1989
מאת: Sumib, K. [ed.]
יצא לאור: (1990)