טוען...

Photoinduced defects in semiconductors

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Redfield, David
מחברים אחרים: Bube, Richard H.
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Cambridge Cambridge University 1996
סדרה:(Cambridge studies in semiconductors physics and microelectronic Engineering)
נושאים:
תיאור
תאור פריט:Bibliog on p 201-214
תיאור פיזי:x, 217p.
ISBN:0-521-46196-0