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Photoinduced defects in semiconductors

Détails bibliographiques
Auteur principal: Redfield, David
Autres auteurs: Bube, Richard H.
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: Cambridge Cambridge University 1996
Collection:(Cambridge studies in semiconductors physics and microelectronic Engineering)
Sujets:
Description
Description:Bibliog on p 201-214
Description matérielle:x, 217p.
ISBN:0-521-46196-0