ロード中...
Fault injection techniques and tools for embedded systems reliability evaluation /
| その他の著者: | , |
|---|---|
| フォーマット: | Printed Book |
| 言語: | English |
| 出版事項: |
Boston :
Kluwer Academic Publishers,
c2003.
|
| シリーズ: | Frontiers in electronic testing ;
|
| 主題: | |
| オンライン･アクセス: | http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0821/2003061871-d.html http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0821/2003061871-t.html |
インターネット
http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0821/2003061871-d.htmlhttp://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0821/2003061871-t.html
DCS
| 請求記号: |
004.031.6 BEN |
|---|---|
| 所蔵 | ステータス情報は利用できません |