Fault injection techniques and tools for embedded systems reliability evaluation /

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Benso, Alfredo, Prinetto, Paolo
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Boston : Kluwer Academic Publishers, c2003.
סדרה:Frontiers in electronic testing ;
נושאים:
Embedded computer systems > Testing.
Embedded computer systems > Reliability.
Fault location (Engineering)
גישה מקוונת:http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0821/2003061871-d.html
http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0821/2003061871-t.html
תיאור
תיאור פיזי:xiv, 241 p. :
ISBN:1402075898 (alk. paper)

פריטים דומים