Nalaganje...

Applied pattern recognition /

Bibliografske podrobnosti
Drugi avtorji: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
Format: Printed Book
Jezik:English
Izdano: New Delhi: Springer International, c2011.
Serija:Studies in computational intelligence ;
Teme:

DCS

Podrobnosti zaloge DCS
Signatura: 004.383.8 BUN
Kopija Zaloga ni dosegljiva