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Applied pattern recognition /

Detalhes bibliográficos
Outros Autores: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado em: New Delhi: Springer International, c2011.
Colecção:Studies in computational intelligence ;
Assuntos:

DCS

Detalhes do Exemplar DCS
Área/Cota: 004.383.8 BUN
Cód. Barras: Informação em tempo real indisponível