Wordt geladen...

Applied pattern recognition /

Bibliografische gegevens
Andere auteurs: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: New Delhi: Springer International, c2011.
Reeks:Studies in computational intelligence ;
Onderwerpen:

DCS

Exemplaargegevens van DCS
Plaatsingsnummer: 004.383.8 BUN
Kopie Status is onbeschikbaar