ロード中...

Applied pattern recognition /

書誌詳細
その他の著者: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
フォーマット: Printed Book
言語:English
出版事項: New Delhi: Springer International, c2011.
シリーズ:Studies in computational intelligence ;
主題:

DCS

予約・返却請求 DCS
請求記号: 004.383.8 BUN
所蔵 ステータス情報は利用できません