טוען...

Applied pattern recognition /

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: New Delhi: Springer International, c2011.
סדרה:Studies in computational intelligence ;
נושאים:

DCS

פרטי מלאי ספרים מ DCS
סימן המיקום: 004.383.8 BUN
עותק סטטוס עדכני לא זמין