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Applied pattern recognition /

Détails bibliographiques
Autres auteurs: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: New Delhi: Springer International, c2011.
Collection:Studies in computational intelligence ;
Sujets:

DCS

Informations d'exemplaires de DCS
Cote: 004.383.8 BUN
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