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Applied pattern recognition /

Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: New Delhi: Springer International, c2011.
Colección:Studies in computational intelligence ;
Materias:

DCS

Detalle de Existencias desde DCS
Número de Clasificación: 004.383.8 BUN
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