Načítá se...

Applied pattern recognition /

Podrobná bibliografie
Další autoři: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: New Delhi: Springer International, c2011.
Edice:Studies in computational intelligence ;
Témata:

DCS

Informace o exemplářích z: DCS
Signatura: 004.383.8 BUN
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost