Carregant...

Applied pattern recognition /

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
Format: Printed Book
Idioma:English
Publicat: New Delhi: Springer International, c2011.
Col·lecció:Studies in computational intelligence ;
Matèries:

DCS

Detall dels fons de DCS
Signatura: 004.383.8 BUN
Còpia Comprovació en temps real no disponible