Загрузка...

Applied pattern recognition /

Библиографические подробности
Другие авторы: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
Формат: Printed Book
Язык:English
Опубликовано: New Delhi: Springer International, c2011.
Серии:Studies in computational intelligence ;
Предметы:
Search Result 1
Опубликовано 2008
Printed Book
Search Result 2
Опубликовано 2008
Printed Book