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Applied pattern recognition /

Detalhes bibliográficos
Outros Autores: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado em: New Delhi: Springer International, c2011.
Colecção:Studies in computational intelligence ;
Assuntos:
Search Result 1
Publicado em 2008
Printed Book
Search Result 2
Publicado em 2008
Printed Book