Ładuje się......

Applied pattern recognition /

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: New Delhi: Springer International, c2011.
Seria:Studies in computational intelligence ;
Hasła przedmiotowe:
Search Result 1
Wydane 2008
Printed Book
Search Result 2
Wydane 2008
Printed Book