Caricamento...

Applied pattern recognition /

Dettagli Bibliografici
Altri autori: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
Natura: Printed Book
Lingua:English
Pubblicazione: New Delhi: Springer International, c2011.
Serie:Studies in computational intelligence ;
Soggetti:
Search Result 1
Pubblicazione 2008
Printed Book
Search Result 2
Pubblicazione 2008
Printed Book