Lanean...

Applied pattern recognition /

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: New Delhi: Springer International, c2011.
Saila:Studies in computational intelligence ;
Gaiak:
Search Result 1
Argitaratua 2008
Printed Book
Search Result 2
Argitaratua 2008
Printed Book