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Applied pattern recognition /

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New Delhi: Springer International, c2011.
Schriftenreihe:Studies in computational intelligence ;
Schlagworte:
Search Result 1
Veröffentlicht 2008
Printed Book
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Veröffentlicht 2008
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