Načítá se...

Applied pattern recognition /

Podrobná bibliografie
Další autoři: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: New Delhi: Springer International, c2011.
Edice:Studies in computational intelligence ;
Témata:
Search Result 1
Vydáno 2008
Printed Book
Search Result 2
Vydáno 2008
Printed Book