Loading...

Applied pattern recognition /

Bibliografiske detaljer
Andre forfattere: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
Format: Printed Book
Sprog:English
Udgivet: New Delhi: Springer International, c2011.
Serier:Studies in computational intelligence ;
Fag:
Beskrivelse
Fysisk beskrivelse:xi, 245 p. :
ISBN:9788184898729