Načítá se...

Applied pattern recognition /

Podrobná bibliografie
Další autoři: Bunke, Horst, Kandel, Abraham, Last, Mark
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: New Delhi: Springer International, c2011.
Edice:Studies in computational intelligence ;
Témata:
Popis
Fyzický popis:xi, 245 p. :
ISBN:9788184898729