Bunke, H., Kandel, A., & Last, M. (2011). Applied pattern recognition. Springer International.
Trích dẫn kiểu ChicagoBunke, Horst, Abraham Kandel, và Mark Last. Applied Pattern Recognition. New Delhi: Springer International, 2011.
Trích dẫn MLABunke, Horst, et al. Applied Pattern Recognition. Springer International, 2011.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.