Bunke, H., Kandel, A., & Last, M. (2011). Applied pattern recognition. Springer International.
Chicago Stili AlıntıBunke, Horst, Abraham Kandel, ve Mark Last. Applied Pattern Recognition. New Delhi: Springer International, 2011.
MLA AlıntıBunke, Horst, et al. Applied Pattern Recognition. Springer International, 2011.
Uyarı: Bu alıntı herzaman %100 doğru olmayabilir..