Bunke, H., Kandel, A., & Last, M. (2011). Applied pattern recognition. Springer International.
Chicago-стиль цитированияBunke, Horst, Abraham Kandel, and Mark Last. Applied Pattern Recognition. New Delhi: Springer International, 2011.
MLA-цитированиеBunke, Horst, et al. Applied Pattern Recognition. Springer International, 2011.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.