Bunke, H., Kandel, A., & Last, M. (2011). Applied pattern recognition. Springer International.
Styl cytowania ChicagoBunke, Horst, Abraham Kandel, i Mark Last. Applied Pattern Recognition. New Delhi: Springer International, 2011.
Styl cytowania MLABunke, Horst, et al. Applied Pattern Recognition. Springer International, 2011.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..