Bunke, H., Kandel, A., & Last, M. (2011). Applied pattern recognition. Springer International.
Παραπομπή Chicago StyleBunke, Horst, Abraham Kandel, και Mark Last. Applied Pattern Recognition. New Delhi: Springer International, 2011.
Παραπομπή MLABunke, Horst, et al. Applied Pattern Recognition. Springer International, 2011.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.