Bunke, H., Kandel, A., & Last, M. (2011). Applied pattern recognition. Springer International.
استشهاد بنمط شيكاغوBunke, Horst, Abraham Kandel, و Mark Last. Applied Pattern Recognition. New Delhi: Springer International, 2011.
MLA استشهادBunke, Horst, et al. Applied Pattern Recognition. Springer International, 2011.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.