Abran, A. (2010). Software Metrics and Software Metrology. Wiley.
استشهاد بنمط شيكاغوAbran, Alain. Software Metrics and Software Metrology. New Jersey: Wiley, 2010.
MLA استشهادAbran, Alain. Software Metrics and Software Metrology. Wiley, 2010.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.