Defects control in semiconductors: Proceedings of the conference on the science and technology of defect control in semiconductors,...

מידע ביבליוגרפי
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Amsterdam North-Holland Publishing Company 1990
נושאים:
defect control > Semiconductor > Electric conductors > Electronics > sumib, K

UL

פרטי מלאי ספרים מ UL
סימן המיקום: 621.382:620.1 SUM.2
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים