Načítá se...

Defects control in semiconductors: Proceedings of the conference on the science and technology of defect control in semiconductors,...

Podrobná bibliografie
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: Amsterdam North-Holland Publishing Company 1990
Témata:

UL

Informace o exemplářích z: UL
Signatura: 621.382:620.1 SUM.2
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost