טוען...

QR Code

Dimensional metrology

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי:	Khare, M K
מחברים אחרים:	Vajpayee, Shrikant
פורמט:	Printed Book
שפה:	English
יצא לאור:	New Delhi Oxford and IBH 1970
נושאים:	Metrology

פריטים דומים

Engineering metrology
מאת: Hume, K J
יצא לאור: (1970)

Engineering precision metrology
מאת: Gupta, R.C
יצא לאור: (1979)

Engineering precision metrology
מאת: Gupta, R.C
יצא לאור: (1979)

Engineering precision metrology
מאת: Gupta, R.C
יצא לאור: (1979)

Metal working and metrology (production technology-III)
מאת: Narayana, K.L
יצא לאור: (2002)

Engineering metrology
מאת: Jain, R.K
יצא לאור: (1999)

Gear Metrology
מאת: Scoles, C A
יצא לאור: (1969)

A text book of engineering metrology
מאת: Gupta, I.C
יצא לאור: (1998)

Text book of metrology /
מאת: Mahajan,, M
יצא לאור: (2003)

Principles of engineering metrology /
מאת: Rajendra, Rega
יצא לאור: (2008)

Modern techniques in metrology
מאת: Hewitt, Paul, Ed
יצא לאור: (1984)

Dimensional metrology
מאת: Dotson, Connie
יצא לאור: (2008)

Ultra-fast material metrology
מאת: Horn, Alexander
יצא לאור: (2009)

Ultra-fast material metrology /
מאת: Horn, Alexander
יצא לאור: (2009)

The Legal Metrology Act, 2009
מאת: Bare Act
יצא לאור: (2015)

Speckle metrology /
יצא לאור: (1993)

Speckle metrology /
יצא לאור: (1993)

Metrology in industry : the key for quality
מאת: French college of metrology
יצא לאור: (2006)

A Treatise on legal metrology act, 2009
מאת: Gupta, S V
יצא לאור: (2011)

COINAGE AND METROLOGY OF THE SULTANS OF DELHI
מאת: WRIGHT, NELSON
יצא לאור: (2017)

Engineering metrology and instrumentation /
יצא לאור: (2009)

Mechanical measurements
מאת: Beckwith, Thomas
יצא לאור: (1969)

Handbook of geochemistry V.2.2
מאת: Wedepohl, K.H
יצא לאור: (1970)

Handbook of gechemistry V.2.1
מאת: Wedepohl, K.H
יצא לאור: (1969)

Handbook of geochemistry V.2.4
מאת: Wedepohl, K.H
יצא לאור: (1974)

Handbook of geochemistry V.2.3
מאת: Wedepohl, K.H
יצא לאור: (1972)

Handbook of metrology
מאת: Glaser, Michael.,ed
יצא לאור: (2010)

Applications of time series analysis in astronomy and metrology
מאת: Subba, Rao, T.
יצא לאור: (1997)

Handbook of surface and nanometrology
מאת: Whitehouse, David J.
יצא לאור: (2003)

Fringe pattern analysis for optical metrology theory, algorithms and applications
מאת: Servin, Manuel
יצא לאור: (2014)

Studies on the metrological aspects of air pollution over Cochin
מאת: Anilkumar, K.G
יצא לאור: (1986)

Engineering metrology
מאת: Jain, R. K.
יצא לאור: (1983)

Proceedings of imeko TC.14 international symposium on Metrology for quality control in production (ISMQC)
יצא לאור: (1984)

Fundamental principles of engineering nanometrology
מאת: Leach, Richard
יצא לאור: (2014)

Fundamentals of dimensional metrology
מאת: Dotson, Connie
יצא לאור: (2003)

Fundamental principles of engineering nanometrology
מאת: Leach, Richard K
יצא לאור: (2010)

The mathematics that power our world : how is it made? /
מאת: Khoury, Joseph, et al.
יצא לאור: (2016)

Holographic and speckle interferometry : a discussion of the theory, practice, and application of the techniques /
מאת: Jones, Robert
יצא לאור: (1989)

Holographic and speckle interferometry
מאת: Jones, Robert
יצא לאור: (1989)

Holographic and speckle interferometry : a discussion of the theory, practice, and application of the techniques /
מאת: Jones, Robert, 1946-
יצא לאור: (1989)