Measurement technique for thin films [proceedings]

Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Schwartz, Bertram (d. By)
Drugi avtorji: Schwartz, Newton
Format: Printed Book
Jezik:English
Izdano: New York The Electrochemical Society 1967
Teme:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films

UL

Podrobnosti zaloge UL
Signatura: 621.3.049.772.2:621.317 SCH
Kopija Zaloga ni dosegljiva

Podobne knjige/članki