Ładuje się......

Measurement technique for thin films [proceedings]

Opis bibliograficzny
1. autor: Schwartz, Bertram (d. By)
Kolejni autorzy: Schwartz, Newton
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: New York The Electrochemical Society 1967
Hasła przedmiotowe:

UL

Szczegóły zapisu UL
Sygnatura: 621.3.049.772.2:621.317 SCH
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana