Measurement technique for thin films [proceedings]

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Schwartz, Bertram (d. By)
Beste egile batzuk: Schwartz, Newton
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: New York The Electrochemical Society 1967
Gaiak:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films

UL

Aleari buruzko argibideak UL
Sailkapena: 621.3.049.772.2:621.317 SCH
Alea Egoera zuzenean ez dago erabilgarri

Antzeko izenburuak