Measurement technique for thin films [proceedings]

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schwartz, Bertram (d. By)
Weitere Verfasser: Schwartz, Newton
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York The Electrochemical Society 1967
Schlagworte:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films

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Signatur: 621.3.049.772.2:621.317 SCH
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