Measurement technique for thin films [proceedings]

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Schwartz, Bertram (d. By)
Tác giả khác: Schwartz, Newton
Định dạng: Printed Book
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: New York The Electrochemical Society 1967
Những chủ đề:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films

UL

Chi tiết quỹ từ UL
Số hiệu: 621.3.049.772.2:621.317 SCH
Sao chép Trạng thái trực tiếp không khả dụng

Những quyển sách tương tự