Measurement technique for thin films [proceedings]

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Schwartz, Bertram (d. By)
Andere auteurs: Schwartz, Newton
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: New York The Electrochemical Society 1967
Onderwerpen:
Microelectronics > Electronics > Semiconductors > Thin films

UL

Exemplaargegevens van UL
Plaatsingsnummer: 621.3.049.772.2:621.317 SCH
Kopie Status is onbeschikbaar

Gelijkaardige items